NI于2014年推出的NI STS，基于实验室仪表级别精度的模块化仪器，同时满足测试精度和量产测试覆盖率的需求。NI STS是基于模块化仪器的PXI平台，因此，NI STS可以不断扩展以满足日益增多以及定制化的测试需求。
图1. NI 半导体测试系统内部架构
NI STS 具有统一的测试平台—— PXI 平台，可根据设计检验到生产测试而随时调整、让设计与测试部门轻松共用资料，进而降低成本。此外，PXI 平台开放式与模块化的设计，使您可以获得更强大的计算能力及更丰富的仪器资源，进一步提升半导体测试效率。
NI不断在PXI平台上提供最顶尖的仪器技术来满足半导体产业的测试任务。在这样的平台下，在实验室和产线中内部构造基本一致。在实验室中使用到的高性能的仪器在产线中依然可以使用，并加入如分选机(Handler)/探针(Prober)的集成、标准Docking(包括Soft Dock/Hard Dock)、待测弹簧探针连接、STDF数据报表生成和系统校准等特性，可轻松集成到生产测试满足半导体产线测试的要求。
同样在实验室和量产测试使用统一开发环境LabVIEW和测试管理执行软件TestStand，可最大化复用实验室中的代码，减少数据关联(Correlation)时间，进一步提升半导体测试效率。
图 2. FT 测试
为了帮助半导体工程师更好的使用NI STS，小编特意为大家准备了STS 系列培训教程(有详细视频讲解哦)，今天先讲从“STS Test Head”开始~
NI STS使用培训系列目录
① STS Test Head
NI STS 是一系列用于半导体特性分析和生产的硬件/软件产品。NI STS 系列由 STS T1、STS T2 和 STS T4 组成。T1、T2和 T4 的主要区别在于它们的尺寸以及它们可容纳的 18 插槽 NI PXI 机箱的数量(T1 - 一个 PXI 机箱;T2 - 两个 PXI 机箱;T4 - 四个 PXI 机箱)。本节介绍了 T1、T2 和 T4 的I/O和控件。本视频展示了 NI STS 输入和输出面板及其在测试单元内集成的功能。
② STS Operator Interface
本章介绍了在STS上运行测试的流程。OI(操作员界面)由多个控件和显示框组成，它们用于配置测试站、输入批次信息、执行测试以及查看良率、分bin信息和测试结果。
③ Tester Admins
本章提供了创建可启动 USB 驱动器的参考指南以及使用 Acronis Image 工具加载 STS 控制器镜像的过程。由于 OI 是客户端高度定制的操作员界面，因此我们还介绍了如何修改工厂的默认 STS 操作员界面并满足客户的特定需求。
④ Handlers and Probers
STS 可以Soft docking 或 Hard docking接到分选机和探针测试台。每种类型的 STS 都由标准通信接口和Docking 接口所组成。NI 已与几乎所有在大多数工厂中发现的常见Handler and Prober对接过。以下视频介绍了分选机和探针测试台驱动程序的配置过程，并介绍如何在操作员界面配置模拟分选机。
⑤ Tester Maintenance
本章——测试机维护介绍了 NI STS 系统的常规保养维护和基本操作。NI STS 维护软件是一套软件工具，使用户能够维护、监控、检修并校准 NI 半导体测试系统。大多数测试维护操作可以使用 NI 维护软件进行。
⑥ Test Program Development and Debug
本章介绍了 STS 测试程序架构、TestStand、TestStand半导体模块 (TSM) 以及客户在标准 Semi ATE 平台期望的其它组件/功能。引脚编程、分 bin、Digital Pattern编辑器等相关主题也可在本节中找到。
STS Test Head
NI STS 是一系列用于半导体特性分析和生产的硬件/软件产品。NI STS 系列由 STS T1、STS T2 和 STS T4 组成。
图 3. STS Configurations
T1、T2和 T4 的主要区别在于它们的尺寸以及它们可容纳的18 插槽 NI PXI 机箱的数量(T1- 一个 PXI 机箱;T2 - 两个 PXI 机箱;T4 - 四个 PXI 机箱)。本节介绍了 T1、T2 和 T4 的I / O和控件。
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