测试测量

基恩士出展NEPCON_CHINA 2012上海展会

2025China.cn   2012年05月08日

        2012年4月25日,NEPCON China 2012将在上海世博展览馆隆重召开。此次展会规模达到创纪录的32000平米,共有1000余种电子制造生产设备及材料、测试测量产品、电子制造自动化产品精彩亮相。基恩士在本届展会展出了2012年最新产品VHX-2000超景深三维显微系统,同时展出的还有 VK-X100/X200 系列 形状测量激光显微系统,VW-9000 高速度数码显微系统和IM-6500系列 图像尺寸测量仪。

        基恩士一如既往的白色展台在众多华丽的展台中并不抢眼,但基恩士最新产品VHX-2000超景深三维显微系统的展出和现场解说却吸引了众多客户驻足。“无可比拟的大景深观测”“自由且精准的尺寸测量”“简便而丰富多彩的记录和运用”等特点,VHX-2000无疑成为此次展会基恩士的“明星”。同台展出的 VK-X100/X200 系列 形状测量激光显微系统,VW-9000 高速度数码显微系统和IM-6500系列 图像尺寸测量仪得到为不同行业的客户的垂询。此次基恩士专门为展会设计了产品介绍CD,赠送给每一位到基恩士展场的客户。


        基恩士展场剪影:

 

        如果您未能到场了解我们的产品,您点击以下链接下载我们此次出展产品:

 
 

 

 

(转载)

标签:基恩士 电子制造自动化产品 测试测量产品 VHX | 2000 超景深三维显微系统 我要反馈 
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